OptiSystem Version 22.1

OptiSystem 22.1 は、本格的なPIC解析のための光Sパラと光導波路が追加されました。

下記の新機能リストをご覧ください。

リリース日：2025年5月

光 S パラメータ 光導波路 機械学習ツール Quick Viewの機能改善

VCSEL Laser Measured と Laser Measuredの機能改善

光 S パラメータ素子

光 S パラメータ素子が追加されました。 弊社の姉妹製品OptiBPMおよびOptiFDTDによる光Sパラの解析出力データ、および測定データの光Sパラ（例えば、Touchstoneフォーマットのデータ）をサポートします。 今回の光Sパラ素子の導入により、OptiSystemは本格的に光IC（PIC）の解析が可能になりました。 。

光導波路

光導波路素子が追加されました。 光導波路のモード屈折率（実効屈折率）および導波路の長さが設定できます。 電気信号による光変調が可能です。 今回の光導波路の導入により、OptiSystemは本格的に光IC（PIC）の解析を可能にしました。

光 S パラメータ素子と光導波路を組み合わせて、光リングフィルターを実現できます。

機械学習ツール

機械学習ツールが追加されました。 アイダイアグラムの特徴を習得します。 今回のリリースでは、PAM2信号のみに対応しますが、PAM4信号は今後のリリースで追加される予定です。

Quick Viewの機能改善

Analyzer の中にある Graphs の Quick View の表示機能が改善されました。 Iterationごとの結果が選択・表示されるようになりました。

VCSEL Laser Measured と Laser Measuredの機能改善

VCSEL Laser Measured と Laser Measured の Linewidth enhancement factor 係数の設定値が従来の　-20〜+20　から　-100〜+100 に機能強化しました。 これによって、レーザーが発生する負のチャープを調べることが可能になりました。